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企亚两箱式(shi)冷热冲击试验箱采用分腔设计(ji)理念，将设备内部划分为高温区与低温区两个独立(li)的温(wen)度控制空间，样品通过(guo)专用提篮进行承载。在冷热冲击测试过(guo)程中，提篮(lan)作为传动介质将测试产品在两个温(wen)度区域之间往复移动，实现对产品的(de)动态温度冲击(ji)评估。冲击方式(shi)通过风路切换机制将温度气流精准导入测(ce)试区域，完成规范的冷热交替冲(chong)击测试。该设备支持长时间连续冲击工作模式，单次冲击时(shi)间(jian)可设定至999H，循环周(zhou)期最多(duo)可达9999次，满(man)足耐久性和可靠性测(ce)试的严苛要求。系统配备自动循环冲击和手动选择(ze)性(xing)冲击两种控制模式，操作灵活度(du)高。冷却系统采(cai)用二(er)次冷冻技术方案，降温响应迅(xun)速，冷(leng)却介质选用(yong)水冷式方式以保证散热效率。

冷热冲击测试箱，冷热冲击(ji)试验箱用来测试材(cai)料结构或复合材料，在(zai)瞬间下经高温及低温的连续环境下所(suo)能忍受的程度，借(jie)以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害(hai)。适用对象包括金属，塑料(liao)，橡胶，电子等材料，可作为其产品改进的依(yi)据或(huo)参考。

GJB150.5A-2009温度冲击试验

GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验

GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971电工电子产品环境(jing)试验(yan)第2部分:试验方法温度变化试验(yan)导则

GJB360B-2009温度冲击试验

GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境(jing)试验(yan)第2部分:试验(yan)方法 试验A:低(di)温

GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 电工电子产品环境(jing)试验(yan)第2部分:试验(yan)方法 试验B:高(gao)温

GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件

GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件

GB/T2423.22-2008 电工电(dian)子(zi)产品基本试验规程 试验N:温度变化

GJB 150A.3-2009 高温试验

GJB 150A.4-2009 低温试验

GB/T 10592-2008 高低温试验箱技术条件

GB/T 2423 电(dian)工电子产品环(huan)境试验